摘要：提出了一種基于加速退化數(shù)據(jù)的某導電膜電阻貯存壽命預測方法。首先對該導電膜電阻采用溫度應力進行加速性能退化試驗,試驗中將該導電膜電阻的總阻值作為反映其性能的指標判據(jù),在不同加速應力水平下得到在線測試和離線測試獲取的加速性能退化數(shù)據(jù);然后通過引入溫度因數(shù)去除在線測試數(shù)據(jù)的溫漂效應,再融合在線數(shù)據(jù)和離線數(shù)據(jù)進行退化軌跡模型參數(shù)辨識,獲得該導電膜電阻在各加速應力水平下的偽壽命;然后結(jié)合經(jīng)過修正的三參數(shù)溫度加速模型評估得到該導電膜電阻在正常應力下的貯存壽命。最終以某導電膜電阻為例驗證了所提方法的適用性和有效性。