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1~3nm顆粒物在粒徑分布測(cè)量?jī)x中的通過(guò)效率研究

摘要:基于二甘醇的掃描電遷移率粒徑譜儀(DEG-SMPS)是常用的1~3 nm顆粒物粒徑分布測(cè)量系統(tǒng).目前對(duì)1~3 nm顆粒物在該系統(tǒng)中通過(guò)效率的量化不夠準(zhǔn)確,這給大氣顆粒物粒徑分布的測(cè)量帶來(lái)了較大的不確定性.本文研究了1~3 nm顆粒物和離子在直管、彎管以及氣溶膠中和器等系統(tǒng)組件中的通過(guò)效率,并使用等效管長(zhǎng)法來(lái)量化顆粒物在這些組件單元中的通過(guò)效率.研究表明,1~3 nm顆粒物在直管內(nèi)的通過(guò)效率不受顆粒物電性影響,且可以由Gormley-Kennedy (G-K)方程估算.當(dāng)采樣流量為2.5 L·min^-1時(shí),DEG-SMPS系統(tǒng)中總等效管長(zhǎng)約為433 cm,其中氣溶膠中和器的等效管長(zhǎng)為160 cm,彎頭的等效管長(zhǎng)為33 cm.

關(guān)鍵詞:
  • 通過(guò)效率  
  • 掃描電遷移率粒徑譜儀  
  • 等效管長(zhǎng)  
作者:
薛墨; 傅月蕓; 蔡潤(rùn)龍; 蔣靖坤; 郝吉明
單位:
清華大學(xué)環(huán)境學(xué)院; 環(huán)境模擬與污染控制國(guó)家重點(diǎn)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室; 北京100084
刊名:
環(huán)境科學(xué)學(xué)報(bào)

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環(huán)境科學(xué)學(xué)報(bào)緊跟學(xué)術(shù)前沿,緊貼讀者,國(guó)內(nèi)刊號(hào)為:11-1843/X。堅(jiān)持指導(dǎo)性與實(shí)用性相結(jié)合的原則,創(chuàng)辦于1981年,雜志在全國(guó)同類期刊中發(fā)行數(shù)量名列前茅。