摘要：易風(fēng)化晶體離開母液就會風(fēng)化并失去結(jié)晶溶劑,導(dǎo)致結(jié)構(gòu)塌陷,由單晶變成粉末,從而無法完成測試.X-射線單晶衍射儀易風(fēng)化晶體低溫顯微上樣系統(tǒng)利用晶體在低溫下比較穩(wěn)定的原理,通過維持選樣與上樣過程中的低溫環(huán)境,使易風(fēng)化晶體能夠得以測試,從根本上解決了風(fēng)化晶體的測試問題.系統(tǒng)的研制為易風(fēng)化晶體化合物結(jié)構(gòu)的測試提供有力的技術(shù)保障,是單晶衍射儀功能開發(fā)的重要技術(shù)創(chuàng)新.
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