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CMP拋光壓力校準的研究與應用

摘要:拋光壓力是影響化學機械拋光(CMP)效果的重要參數(shù)之一,為了更精準地控制拋光頭加載壓力和實時監(jiān)測壓力,通過分析壓力加載和獲取的方法,應用最小二乘法對壓力進行校準,在實際加工中取得了理想的效果,實現(xiàn)了更好的工藝性能。

關鍵詞:
  • 化學機械拋光  
  • 拋光壓力校準  
  • 精準控制  
  • 實時監(jiān)測  
作者:
孟曉云; 孔憲越; 楊元元; 劉志偉
單位:
中國電子科技集團公司第四十五研究所; 北京100176
刊名:
電子工業(yè)專用設備

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電子工業(yè)專用設備雜志緊跟學術前沿,緊貼讀者,國內(nèi)刊號為:62-1077/TN。堅持指導性與實用性相結(jié)合的原則,創(chuàng)辦于1971年,雜志在全國同類期刊中發(fā)行數(shù)量名列前茅。